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    1. 全外顯子組測(cè)序遺傳病檢測(cè)
      項(xiàng)目介紹

      目前,世界范圍內(nèi)已報(bào)道的單基因遺傳病(或性狀)超過12000種。按照世界衛(wèi)生組織的統(tǒng)計(jì),大部分單基因病患病率為0.65%-1%,所有這些單基因病總發(fā)病率超過1%,世界范圍內(nèi)單基因遺傳病患者已達(dá)2000萬(wàn)人。僅地中海貧血一項(xiàng)的重型和中間型患者就高達(dá)30萬(wàn),“地貧”基因攜帶者更是高達(dá)3000萬(wàn)人。外顯子組(exome)即一個(gè)個(gè)體的基因組DNA上所有蛋白質(zhì)編碼序列(即外顯子,exon)的總和。人類外顯子組序列僅占人類整個(gè)基因組序列的1%,約為30Mb,包括18萬(wàn)個(gè)左右的外顯子,但其與多種疾病發(fā)生息息相關(guān)。據(jù)估計(jì)85%的人類致病突變都位于這1%的蛋白質(zhì)編碼序列上。

      對(duì)外顯子組進(jìn)行測(cè)序分析,可幫助我們闡明單基因疾病的遺傳特征,深入探究疾病和遺傳變異的內(nèi)在關(guān)系,為攜帶者、患者家庭提供更多的科學(xué)指導(dǎo)。

      全外顯子組測(cè)序遺傳病檢測(cè)
      全外顯子組測(cè)序遺傳病檢測(cè)
      安諾優(yōu)勢(shì)
      • 覆蓋范圍
        全基因組范圍內(nèi)20000個(gè)目標(biāo)基因及側(cè)翼序列100bp范圍內(nèi)的SNP和InDel(Insertion/Deletion)及16K線粒體環(huán)基因組
      • 檢測(cè)技術(shù)
        目標(biāo)區(qū)域捕獲技術(shù)+高通量測(cè)序技術(shù)
      • 驗(yàn)證技術(shù)
        Sanger測(cè)序
      • 檢測(cè)深度
        平均測(cè)序深度超過200×
      • 檢測(cè)周期
        20個(gè)工作日
      全外顯子組測(cè)序遺傳病檢測(cè)
      適用人群
      • 具有明確的遺傳家族病史的患者;
      • 具有非典型性疾病特征,或經(jīng)過多種醫(yī)學(xué)檢測(cè)未查明分子致病原因的患者;
      • 涉及某一或多個(gè)臟器異常,臨床表型提示涉及單基因疾病的患者;
      • 具有不明原因的發(fā)育遲緩、智力障礙、多神經(jīng)發(fā)育異常、精神狀態(tài)異常的患者。